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水溶液ミストで窒化銅(Cu₃N)薄膜を低温・低コスト・大面積形成 7月9日にJST新技術説明会でオンライン公開

2026/07/07

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本技術の要点
・水溶液ミストを用いて、Cu₃N薄膜を低温・低コスト・大面積で形成
・錯体構造制御に基づく簡便・低コストな前駆体設計により、高品質化を実現
・半導体デバイスやセンサー材料など、電子デバイス関連分野への応用に期待

工学院大学(学長:今村 保忠、所在地:東京都新宿区/八王子市)の山口 智広 教授(応用物理学科)は、水溶液ミストから高品質な窒化銅(Cu₃N)薄膜を低温・低コスト・大面積で形成する技術を開発しました。錯体構造制御Mist CVDに基づき、銅粉末とアンモニア水にHacac(アセチルアセトン)を加えた簡便・低コストな前駆体を設計し、Cu₃N薄膜の高品質化を実現した点が特徴です。
2026年7月9日にオンライン開催されるJST新技術説明会(主催:国立研究開発法人科学技術振興機構(JST)、工学院大学)において最新研究成果と産業応用の可能性を企業に向けて紹介し、社会での技術活用を進めます。

 
【プレスリリース】水溶液ミストで窒化銅(Cu₃N)薄膜を低温・低コスト・大面積形成 7月9日にJST新技術説明会でオンライン公開 [229KB]

Cu₃N薄膜は、半導体デバイスやセンサー材料などへの応用が期待される機能性薄膜材料です。従来、高品質なCu₃N薄膜の形成には、スパッタやMBEなどの真空法が用いられてきました。これらの手法は高品質なCu₃N成長が可能である一方、真空環境下での成膜を前提とすることなどから、コストや成膜温度、大面積化に課題がありました。
今回の成果では、水溶液ミストを用いるミスト化学気相堆積(Mist CVD)法に、錯体構造制御に基づく前駆体設計を組み合わせています。本技術は、低コストな前駆体設計と、低温・大面積成膜、高品質化を合わせて実現できる点に強みがあります。

将来的には、低温形成トランジスタやCu配線形成、太陽電池・光電変換デバイス、センサー材料などへの展開も想定されています。低温・低コスト・大面積でCu₃N薄膜を形成できる技術として、電子デバイス関連分野での活用が期待されます。

■特許情報

発明の名称 窒化銅膜の製造方法、銅膜の製造方法、及び、窒化銅前駆体組成物
発明者 山口 智広、永井 裕己、佐藤 光史、杉田 直樹、涌井 皇輝
出願人 学校法人 工学院大学
出願番号 特願 2026-060645

■工学院大学 新技術説明会 開催概要

日時 2026年7月9日(木) 9:55-11:55
開催場所 オンライン開催
主催 国立研究開発法人科学技術振興機構(JST)、工学院大学
参加料 無料
事前申込 必要
申込先 https://shingi.jst.go.jp/list/list_2026/2026_kogakuin.html

研究に関するお問い合わせ 学校法人 工学院大学 研究推進部研究企画課
担当:堀口
TEL:03-3340-3440
e-mail: sangaku[at]sc.kogakuin.ac.jp